HAST高壓加速老化試驗箱定制
簡要描述:HAST高壓加速老化試驗箱定制是一種用于評估非氣密性封裝IC器件、半導體、微電子芯片、磁性材料及其他電子零件在高溫、高濕、高壓環境下的可靠性的設備。采用干濕球溫度控制、升溫溫度控制及濕潤飽和控制等三箱控制模式,滿足國際標準要求 。。
- 產品型號:DR-HAST-350Y
- 廠商性質:生產廠家
- 更新時間:2024-10-22
- 訪 問 量:255
HAST高壓加速老化試驗箱定制是一種用于評估非氣密性封裝IC器件(固態設備)在高溫高濕條件下的運行可靠性的設備。它適用于對芯片、半導體等其他元器件進行溫濕度偏壓(不偏壓)高加速應力壽命老化試驗。以下是HAST高壓加速老化試驗箱的一些關鍵產品特點和應用領域:
精確的溫濕度控制:采用干濕球溫度控制、升溫溫度控制及濕潤飽和控制等三箱控制模式,滿足國際標準要求,如IEC60068-2-66、JESD22-A100至A118等。
防止結露設計:內膽采用雙層圓弧設計,防止試驗結露滴水現象,避免產品在試驗過程中受過熱蒸汽直接沖擊影響試驗結果。
多重保護功能:具備三道高溫保護裝置、濕度用水斷水保護與電熱斷水空焚保護、機臺停機時自動排除飽和蒸氣壓力、氣動機構壓力保護等。
濕度自由選擇:可以選擇飽和(100%R.H濕度)與非飽和(75%R.H濕度)的設定,提供更大的靈活性。
智能化控制系統:配備7寸真彩式觸摸屏,擁有250組12500段程序,具有USB曲線數據下載功能,RS-485通訊接口。
易于清潔和操作:采用V型冷凝器,散熱面積大,冷卻效率高。冷軋板烤漆,易于保養,耐腐蝕,耐高低溫。
多端口數據支持:具有USB接口,可直接復制記錄歷史曲線和數據,也可通過RS-232或RS-485接口控制機器并將數據存儲在計算機硬盤上。
滿足多種測試標準:能夠滿足GB/T2423.40、IEC60068-2-66、JESD22-A100至A118等多種國際測試標準。
廣泛應用領域:廣泛應用于IC半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業。
安全設計:內膽采用圓弧設計防止結露滴水,符合國家安全容器規范。
測試標準遵循:主要依據AEC-Q101標準,該標準詳細定義了汽車電子器件必須通過的測試項目和條件。
高溫高濕應力測試(HAST):在高溫(如130℃)、高濕(85%RH)、高壓(230KPa)的條件下進行96小時測試,以加速水分對封裝材料的滲透,評估器件的耐久性。
無偏置高加速溫度和濕度測試(UHAST):與HAST類似,但不施加電壓偏置,用于揭示電壓偏置條件下不易發現的失效模式。
通電要求:根據器件的特性,可能需要在測試過程中施加持續或循環的電壓偏置。
升降溫控制:在升降溫過程中,要確保設備溫度始終在露點溫度之上,避免器件表面凝結。
功能檢查:在測試前后,需要對器件的外觀和電氣參數進行檢查,確保器件在環境下的性能沒有退化。
實驗設備:使用能夠保持規定溫度、濕度和壓力的試驗箱,并能夠提供電氣連接和記錄試驗周期的相關曲線。
安全措施:試驗箱應具備多重保護裝置,如高溫保護、濕度斷水保護等,以確保測試過程的安全。
國產HAST試驗箱